ZETA電位·粒徑·分子量測系統ELSZ-2000系列 參考價：面議
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多檢體納米粒徑量測系統nanoSAQLA 參考價：面議
多檢體納米粒徑量測系統nanoSAQLA利用動態光散射法(DLS法)的粒徑測量（粒徑0.6nm～10μm）儀器?？蓪獧z體范圍廣，低濃度～高濃度類，新光學系，輕...
顯微分光膜厚儀（OPTM系列） 參考價：面議
顯微分光膜厚儀（OPTM系列）使用顯微光譜法在微小區域內通過反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜...
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